掃描電鏡原位拉伸試驗的主要優(yōu)點及其應(yīng)用說明
掃描電鏡原位拉伸試驗是一種常用的分析方法,可以提供有關(guān)物體彈性的信息,以及物體受到壓力或拉力時產(chǎn)生的阻力。這種測試可以對多種材料進行分析,分析材料受力時變化行為。主要目的是評估相關(guān)參數(shù)或研究剪切應(yīng)力如何影響材料性能??梢詭椭芯咳藛T創(chuàng)建模型并研發(fā)更好的材料。掃描電鏡原位拉伸試驗的主要優(yōu)點:1)具有環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場發(fā)掃描電鏡。2)在各種操作模式下分析導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品,得到二次電子像和背散射電子像。3)較大程度降低樣品制備要求:低真空/環(huán)境真空技術(shù)使得不導(dǎo)電樣品和/或含水樣...